II Международная конференция «Контроль качества при помощи компьютерной томографии: металлообработка, электроника, нефтегазовая сфера»

 В 2014 году мероприятие прошло на высоком уровне! Наиболее отличительной особенностью стало разделение участников «по интересам», что наиболее подходит статусу Конференции. Таким образом, участники смогли получить больше информации об исследованиях в схожих областях, пообщаться со своими коллегами и поработать на Конференции именно по своей тематике, без необходимости слушать доклады, касающиеся других отраслей. Всего было сформировано 3 секции: «материаловедение и металлообработка», «нефть и газ» и «электроника и микроэлектроника».

Другим важным отличием, стало количество и состав докладчиков. Прозвучали доклады научных работников ряда крупнейших ВУЗов страны: МГУ, ВлГУ, МФТИ, КФУ и НИУ МЭИ; представителей крупнейших отечественных предприятий: ВНИИА, ГРПЗ и РКС; а так же руководителей и специалистов ряда компаний, имеющих опыт использования томографии в своей сфере деятельности.

2-я Конференция собрала в 3 раза больше участников, чем в 2013 году.

Рис. 1. Пленарная часть Конференции.

Конференция по компьютерной томографии 2014 в цифрах:

  • 2 дня
  • 3 тематические секции
  • 27 докладов
  • 95 участников
  • 55 организаций

Конференция по компьютерной томографии 2014 в деталях:

Открыла Конференцию общая для всех пленарная часть. Первым взял слово Н.А. Федоров, начальник Отдела Технологического Контроля ЗАО «Остек-СМТ» (рис.1).

Никита Александрович озвучил наиболее значимые новости и события, произошедшие за год после 1-й конференции, которых весьма не мало:

  1. Расширение сотрудничества ЗАО «Остек-СМТ» и GE: Остек назначен Генеральным Партнером для поставок инспекционных систем рентгеновского контроля на территории РФ и СНГ;
  2. В портфель поставок Остека добавились рентген-телевизионные системы, в прошлом известные как Seifert, предназначенные для контроля литья и крупных металлических изделий;
  3. Запуск специализированного сайта www.ostec-ct.ru с постоянно обновляемым разделом «База знаний», где можно изучить статьи, посмотреть видео и фотоматериалы;
  4. Внесение первого в РФ томографа в Государственный реестр средств измерений;
  5. Принятие решения об открытии Центра Рентгеновских Технологий Контроля (ЦРТК) в городе Владимир. После открытия центра все желающие могут провести пробные исследования на лучших в Мире рентгеновских установках производства GE;
  6. Организация склада запасных частей GE в г. Калуге, что позволит обеспечить минимальные сроки реагирования на запросы клиентов;
  7. Выпуск второй редакции Пособия по компьютерной томографии;
  8. Объявление о начале производства нового промышленного томографа v|tome|x c;
  9. Подписание прямого соглашения между ЗАО «Остек-СМТ» и Volume Graphics — Остек на сегодняшний день единственный прямой представитель VG на территории РФ и СНГ.

Доклад Н.А. Федорова был дополнен Андре Эгбертом (Andre Egbert), менеджером GE по работе с дилерами на территории Европы, РФ и СНГ, который рассказал о последних достижениях GE в области КТ и планах на грядущий год.

Далее прозвучал интересный доклад о возможностях и ограничениях метода от гуру компьютерной томографии, инженера GE Геннадия Мельника. Данный доклад был особенно полезен участникам, которые только начинают прорабатывать для себя технологию КТ - они смогли найти для себя ответы на многие вопросы. Геннадию пришлось задержаться после доклада, чтобы ответить на многочисленные вопросы слушателей. Безусловно, Конференцию стоило посетить уже хотя бы за тем, чтобы иметь возможность пообщаться со специалистом такого уровня.

Но, пожалуй, наибольший интерес в ходе пленарной части, вызвал доклад специалиста ЗАО «Остек-СМТ» и сотрудника Института общей ядерной физики Игоря Проказова, затронувшего  волнующий всех вопрос о радиационной безопасности рентген-установок. Игорь в простой и доступной форме четко сопоставил все данные по излучению со стандартами по безопасности, причем сделал это в настолько коротком докладе, что все удивились, почему никто этого не сделал раньше.

Далее участники сформировали 3 группы по интересующим тематикам, в составе которых и продолжилась работа.

Секция «материаловедение и металлообработка»

Данная секция оказалась самой продолжительной и состояла из 11 докладов. В целом все доклады секции можно разделить на основные тематические группы:

  • Доклады пользователей метода о тех или иных практических исследованиях, достигнутых результатах и практической пользе метода КТ.
  • Возможности программного обеспечения, используемого в обработке и визуализации КТ данных, а так же о метрологических возможностях метода КТ.
  • Особенности оборудования используемого для рентгеновской томографии.

Секция «нефть и газ»

Остек пока не представлен в данном секторе промышленности, но активное развитие рентгеновской компьютерной томографии в этой области, потребовало  включения докладов по данной тематике в план Конференции.

В данной секции хочется отметить активное участие представителя кафедры геологии и геохимии горючих ископаемых Геологического факультета МГУ им. Ломоносова Короста Дмитрия Вячеславовича.

Также здесь прозвучал ряд докладов иностранных специалистов, а участники Конференции и специалисты Остека, смогли ближе познакомиться с пока еще малоизученной для себя областью.


Секция «Электроника и микроэлектроника»

Прозвучали доклады, посвященные контролю качества и исследованиям в области электронной техники. В данной секции выступили представители крупнейших предприятий радиоэлектронной промышленности. Были рассмотрены следующие темы:

«Применимость КТ для контроля LTCC/HTCC»

«Примеры КТ контроля СВЧ-модулей»

«КТ для исследования изделий электронной техники»

«Анализ отказов радиоэлектронных элементов при помощи КТ»

Но наибольший интерес и обсуждения вызвал доклад, подготовленный Игорем Проказовым, «Влияние рентгеновского излучения на радиоэлектронные компоненты».

За многие годы работы Остека с системами рентгеновского контроля, подобный труд был проделан впервые. Данная тема волновала очень многих, но у нас в стране каких-либо предметных публикаций на тему минимизации влияния рентгеновского излучения на электронные компоненты не было, поэтому особенно приятно, что именно специалист Остека провел это исследование и получил конкретные результаты.

Подводя итоги прошедшей Конференции, можно с уверенностью сказать, что данное мероприятие стало одним из ключевых в области 3D рентгеновских исследований в нашей стране, и с годами будет только развиваться. Учитывая  возрастающий интерес к компьютерной томографии и динамику развития данной технологии в целом, можно сделать выводы о том, что 3-я Конференция, запланированная на февраль 2015 года, соберет еще большую аудиторию и снова даст много новых интересных и важных сведений о последних достижениях в научной и практической областях.

ЗАО «Остек-СМТ» сердечно благодарит всех участников конференции!

Приглашаем всех посетить Конференцию 2015 года. Точные даты будут объявлены позже, следите за новостями на нашем сайте.

Что говорили участники.

Конференцию не обошли вниманием и отраслевые информационные ресурсы. Информационный портал Элинформ, взял интервью у нескольких участников мероприятия, которые в свою очередь с удовольствием ответили на вопросы.

Федоров Н.А. Начальник Отдела технологического контроля ЗАО «Остек-СМТ»

— Основная цель данного мероприятия -  создать сообщество людей, интересующихся компьютерной томографией, и людей, которые ее применяют. Я считаю, что эту цель сегодня мы уже выполняем. Я уже отмечал, что по сравнению с предыдущей Конференцией мы добились качественного улучшения по ключевым показателям. Первое - это количество участников. Это один из самых важных показателей, потому что именно количество характеризует интерес людей к этой технологии. Второе - это количество докладов. За этот год мы успели провести несколько новых исследований, о чем стремимся рассказать. И третье — количество секций. В этом году мы пришли к новому формату проведения мероприятия.

— (на вопрос о перспективах рынка КТ) Важно понимать, что когда мы говорим о томографии, цикл проекта может составлять 2-3 года. Тем не менее, успехи уже есть. На данный момент в России более 15 систем с функцией томографии. Это для нас может быть даже где-то и неожиданный успех, но мы сделали все, чтобы он стал реальностью, и в этом году у нас так же большие планы по развитию. Интерес, который возникает вокруг данной технологии, мы стараемся всячески поддерживать, и Конференция для нас -  один из индикаторов того, что мы все делаем правильно.

— (на вопрос о внесении томографов GE в государственный реестр средств измерений) Да, действительно, была интересная задача. В прошлом году на Конференции мы говорили о том, что планируем это сделать, и в сентябре 2013 года нам удалось внести одну из установок в реестр средств измерений. То есть система сертифицирована и имеет все необходимые документы. Для нас это знаковое событие, и сейчас те, кто использует томографию могут реализовать то же самое, то есть их системы могут быть сертифицированы в качестве метрологических.

Корост Д.В. Кандидат геолого-минералогических наук, научный сотрудник кафедры геологии и геохимии горючих ископаемых Геологического факультета МГУ

— (на вопрос о рынке аутсоринговых услуг КТ) Полноценным сформированным рынком его еще рано называть, но однозначно можно сказать, что он растет и он вырастет. Начав заниматься КТ исследованиями семь лет назад,я понял что у меня нет «полочки», которую я должен занять. Я сначала должен построить эту полочку. Это было абсолютно ново для нашей страны в целом, для заказчиков, для исследований. Сегодня ситуация изменилась в лучшую сторону. Если семь лет назад было всего 2 прибора, то сейчас уже счет ведется на десятки. Некоторые компании пытаются сами что-то покупать, а некоторые приходят к тому чтобы воспользоваться сторонними услугами. И я очень надеюсь, что мне в будущем не придется заниматься тем, что мне не нравится, а придется заниматься чем нравится, а именно КТ.

Е.С. Прусов, к.т.н., доцент, Кафедра «Литейные процессы и конструкционные материалы» ВлГУ

— (на вопрос о перспективах развития КТ в материаловедении) Как мы с коллегами уже успели убедиться при проведении «пилотных» исследований, КТ предоставляет уникальный спектр возможностей при изучении свойств, характеристик, а так же структурных особенностей новых материалов. В частности, это трехмерная визуализация структуры различных материалов, в том числе литых или полученных твердофазными методами. Далее, это оценка пространственного распределения различных фазовых составляющих, оценка их морфологических характеристик и других структурных особенностей. Широкий спектр возможностей открывается так же при изучении строения жидких металлов и сплавов, а именно процессов кристаллизации, процессов зарождения и роста кристаллов, формирования различных литейных дефектов в режиме реального времени. Кроме этого, КТ может применяться при анализе деформации и разрушения различных материалов, также в режиме реального времени, выполняя послойные томографические срезы в различных режимах нагружения. Ну и, конечно, отдельно необходимо отметить применение КТ для дефектоскопии, оценки пористости новых материалов и изделий из них. На основе полученных результатов создается технология получения новых материалов.

И. Проказов старший инженер ЗАО «Остек-СМТ»; инженер-исследователь, Институт общей ядерной физики.

— (на вопрос о влиянии рентгеновского излучения на радиоэлектронные компоненты) Сложно говорить о том, сильное или слабое влияние оказывает рентгеновское излучение на компоненты. Это зависит от конкретной ситуации, от того, в каких условиях была получена данная доза. Но влияние, безусловно, есть. Чем дольше мы облучаем компонент, тем более высокий риск отказа мы имеем. Если мы будем соблюдать определенный алгоритм, то этот риск можно свести к минимуму и вообще избежать каких-либо последствий. Если, к примеру, компонент получит большую дозу, то ему вероятнее всего будут нанесены необратимые повреждения. Если же мы говорим о более реалистичных цифрах, сопоставимых, скажем, с пребыванием элемента в космосе, где тоже получается достаточно серьезная доза, то здесь мы будем говорить о дрейфе характеристик данного компонента. Например, в случае транзистора, мы получим изменение вольт-амперной характеристики, изменение порогового напряжения и так далее.