IV Международная конференция «Новейшие технологии контроля»– НТК

6-7 апреля успешно прошла IV Международная конференция «НТК-2016», организованная направлением технологий контроля (НТК) компании Остек-СМТ при поддержке GE Oil&Gas.

Всего за 4 года из узкоспециализированного мероприятия, ограниченного темами компьютерной томографии, конференция превратилась в масштабное межотраслевое событие, посвященное широкому спектру актуальных вопросов обеспечения качества в промышленности и исследованиях, выйдя за рамки отдельно взятой технологии. В связи с этим было принято решение об изменении названия конференции: вместо «Конференция по компьютерной томографии» стало «Новейшие технологии контроля».

Демонстрируя положительную динамику роста по всем аспектам, повышая уровень докладов, актуальность и пользу тем, добавляя полезные практические занятия на действующем оборудовании, вовлекая новые отрасли и помогая налаживанию контактов между предприятиями, конференция ежегодно увеличивала число заинтересованных участников.

Но даже самые оптимистичные прогнозы не предсказывали в текущем году такого ажиотажа вокруг данного мероприятия и активности регистрирующихся гостей. За три дня, до начала конференции, организаторы были вынуждены остановить регистрацию, в связи с рекордным количеством участников и физической невозможностью помещений вместить в себя всех желающих.

На плечи принимающей стороны, а именно специалистов Направления технологий контроля легла серьезная нагрузка. Поскольку мероприятие посвященное качеству должно быть организовано безупречно, для поддержания требуемого уровня пришлось подключать дополнительные ресурсы и искать резервы. В итоге гости отметили высокий уровень организации конференции и профессионализм экспертов, а каждому участнику было уделено достаточное внимание.

Уже традиционно под одной крышей собрались научные работники и производственники, металлурги и нефтяники, электронщики и искусствоведы, теоретики и практики. Для каждого нашлась тема в соответствующей секции, которых было три: материаловедение и металлообработка, нефть и газ, электроника и микроэлектроника.

Конференция открылась 6 апреля в Москве, в выставочном центре «ИнфоПространство». В ходе пленарной части было рассказано об изменениях, произошедших в НТК за минувший год, представлены новые виды деятельности, в частности, тема контроля геометрии тел вращения. Затем слушатели прослушали доклады о применении различных методов контроля в других областях науки и производства и весьма любопытную информацию о применении компьютерной томографии в расследовании причин автокатастроф. После этого произошло разделение на секции, где и продолжилась работа.

Одно из нововведений этого года — организация автобусного трансфера Москва-Владимир-Москва, для участников практической части конференции запланированной в Центре технологий контроля на 7 апреля. Это способствовало формированию атмосферы еще более способствующей межличностному общению и знакомствам между участниками в неформальной обстановке.

Второй день прошел не менее продуктивно, чем первый. Гости центра смогли воочию понаблюдать работу самых современных установок рентгеновского контроля и компьютерной томографии v|tome|x c450, v|tome|x m300, x|cube XL225, а так же оценить процесс инспекции геометрии распредвала при помощи MTL 1250 X-Stream. Для каждой из секций были организованы интересные доклады с сопутствующей демонстрацией систем.

Подводя итог, можно сказать, что конференция поднялась еще на одну ступень вверх, предоставив слушателям больше качественной информации, больше пользы, больше прогрессивных технологий контроля и, наконец, больше комфорта и сервиса, чем год назад. Неуклонно возрастающее количество участников — верное свидетельство актуальности и востребованности данной темы, и, следовательно, правильно выбранного вектора развития мероприятия.

Направление технологий контроля Остек-СМТ сердечно благодарит всех гостей конференции «НТК-2016» и надеется на встречу в следующем году.

Особую признательность за помощь в организации мероприятия и высокое качество предоставленного материала мы выражаем приглашенным докладчикам:

  • Egbert, J. Schache (General Electric)
  • Becker, S. Rumyantsev (Volume Graphics)
  • К. Н. Абросимову (Почвенный институт им. В.В. Докучаева)
  • А. В. Аспидовой (НИИИТ)
  • Э. Э. Ахмадиеву (ЦЦТ)
  • А. Г. Баранову (ОКБ им. Сухого)
  • Д. Р. Гилязетдиновой, А. Н. Хомяку (МГУ им. Ломоносова)
  • И. П. Горбачеву (РКС)
  • А. Н. Денисову (ЭПАК-Сервис)
  • Д. С. Ланцову, Д.А. Ширяеву (Исток)
  • Н. С. Ларичеву (МГТУ им. Баумана)
  • А. Н. Новиковой (Синеркон)
  • Л. Е. Беньяминовой (АСК-Рентген)
  • И. Д. Петрову (ВНИИА им. Духова)
  • Е. С. Прусову (ВлГУ им. Столетовых)
  • А. А. Фролову (Остек-АртТул)
  • С. С. Чугунову (Сколтех)
  • К. Ю. Шепелю (ВНИПИвзрывгеофизика)

Сборник тезисов докладов 4-й Международной конференции «Новейшие технологии контроля» 

 

 

 

 

Фотоматериалы